概述

涂層測(cè)厚儀leeb252C是磁性、渦流一體的便攜式涂層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，是材料保護(hù)重要的儀器。

主要功能

●涂層測(cè)厚儀leeb252C采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

●具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式和單次測(cè)量方式

●具有三種測(cè)量模式:高精度測(cè)量模式可對(duì)多次測(cè)量取平均，并對(duì)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)過(guò)濾，可確保測(cè)量值更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定;快速測(cè)量模式可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)掃描功能。

●具有溫度補(bǔ)償功能:實(shí)時(shí)溫度補(bǔ)償技術(shù)可自動(dòng)對(duì)環(huán)境溫度及測(cè)頭溫度改變引起的測(cè)量誤差進(jìn)行補(bǔ)償，使測(cè)量更準(zhǔn)確。

●設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值( MEAN)、 最大值( MAX)、最小值( MIN )測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV )。

●可采用零點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)并可用基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正。

●具有存儲(chǔ)功能:最多可存儲(chǔ)500個(gè)測(cè)量值。

●具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量。

●可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值自動(dòng)報(bào)警。

●具有電源電量指示功能。

●操作過(guò)程有蜂鳴聲提示。

●說(shuō)有三種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式，超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)方式以及低電量自動(dòng)關(guān)機(jī)方式，并可設(shè)置超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)等待時(shí)間

技術(shù)參數(shù)

符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法

GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法

JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

JJG 889-95 《磁阻法測(cè)厚儀》

JJG 818-93《電渦流式測(cè)厚儀》

產(chǎn)品描述

測(cè)量原理

● 本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可測(cè)量磁性金屬基體( 如鐵、鈷、鎳 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。。

A.磁性法(F型測(cè)頭)：

當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)其磁阻的改變量可測(cè)出覆蓋層的厚度。

磁性法基本工作原理

B.渦流法(N型測(cè)頭)：

利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

渦流法基本工作原理

校準(zhǔn)方法

本儀器提供兩種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法:零點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn);以及兩種針對(duì)探頭的校準(zhǔn)方法:基本校準(zhǔn)

零點(diǎn)校準(zhǔn)

在不同基體上進(jìn)行測(cè)量時(shí)重新進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，當(dāng)校準(zhǔn)使用的基體與待測(cè)試件基體性質(zhì)偏差較大時(shí),測(cè)量值將會(huì)產(chǎn)生偏差。可使用以下兩種方法之一進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn):

方法1:a)在基體上進(jìn)行一次測(cè)量 ，屏幕顯示< xxμm>。

b)在提起測(cè)頭之后長(zhǎng)按“校正" 鍵，屏顯<0.0um>，校準(zhǔn)完成。

方法2:可短按“校正" 進(jìn)入校準(zhǔn)界面，對(duì)基體進(jìn)行測(cè)量，按“確認(rèn)"鍵，然后跳過(guò)下一個(gè)界面“測(cè)量(1000um)時(shí),按“跳過(guò)"鍵校準(zhǔn)完成。

兩點(diǎn)校準(zhǔn)

這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。

a)可短按“校正"進(jìn)入校準(zhǔn)界面，對(duì)基體進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，屏幕顯示<xxxum> ,按“確認(rèn)"確認(rèn)。

b)按提示測(cè)量(1000um)的標(biāo)準(zhǔn)片，屏幕顯示< xxxum>。按“確認(rèn)"鍵確認(rèn)。(或沒(méi)有1000um的標(biāo)準(zhǔn)片時(shí)，找厚度接近的膜片代替，需要在儀器上設(shè)置膜片的厚度，操作方法如下,在提示測(cè)量( 1000um )的標(biāo)準(zhǔn)片時(shí)，按“設(shè)置"鍵，進(jìn)入設(shè)置校正值界面，按“∧"“∨"鍵來(lái)調(diào)整膜片的厚度值，然后按"確認(rèn)“鍵確認(rèn)，返回到校正界面,這里測(cè)量( xx xum )就做相應(yīng)的改變了。

保養(yǎng)和維修

1、環(huán)境要求

嚴(yán)格避免碰撞、重塵、潮濕、強(qiáng)磁場(chǎng)、油污等。

2、更換電池

當(dāng)屏幕上的電池電量在開(kāi)機(jī)時(shí)顯示小于2格，就表示應(yīng)該更換電池。

3、儀器維修

出現(xiàn)故障時(shí)，請(qǐng)用戶不要拆機(jī)自修。填妥保修卡后，請(qǐng)將儀器交我公司維修部門(mén)，執(zhí)行保修條例。如果能將出現(xiàn)錯(cuò)誤的情況簡(jiǎn)單描述一下，一同寄出，我們將會(huì)非常感謝您。

產(chǎn)品展示